實(shí)驗(yàn)簡介

散斑干涉技術(shù)是一種通過對散斑干涉條紋進(jìn)行分析而獲得測結(jié)果的干涉測量方法，可測量物體形變過程中的微小位移。剪切散斑干涉技術(shù)與傳統(tǒng)直接測量位移技術(shù)不同，主要通過目標(biāo)平面自身作為參考平面 測量得到位移的空間導(dǎo)數(shù)。兩種技術(shù)都具有非接觸、全場同時(shí)測量、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于無損檢測、應(yīng)變測量、振動(dòng)分析等領(lǐng)域。我們采用數(shù)字散斑干涉和剪切散斑干涉兩種方法來測量物體離面的微小位移，并配套測量軟件，是光電及測控專業(yè)學(xué)生掌握散斑測量技術(shù)的理想實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

• 數(shù)字散斑干涉光路搭建

• 數(shù)字散斑干涉物體離面位移測量

• 數(shù)字剪切散斑干涉光路搭建

• 數(shù)字剪切散斑干涉離面位移測量

• 基于相移器的包裹相位提取與相位解算實(shí)驗(yàn)

• 相位圖數(shù)字濾波處理與質(zhì)量評價(jià)研究實(shí)驗(yàn)

• 相位解包裹算法及感興趣區(qū)域（ROI）提取實(shí)驗(yàn)

• 基于相移器的被測物體離面位移空間梯度定量計(jì)算實(shí)驗(yàn)

• 基于相移器的物體表面形變 3D 視圖重構(gòu)與結(jié)果分析實(shí)驗(yàn)

• 基于相移器的材料內(nèi)部缺陷無損檢測（NDT）應(yīng)用實(shí)驗(yàn)

  
  

實(shí)驗(yàn)知識點(diǎn)

數(shù)字散斑干涉技術(shù)、數(shù)字剪切散斑干涉技術(shù)、離面位移測量、圖像相減、相關(guān)條紋、數(shù)字圖像處理技術(shù)。

實(shí)驗(yàn)效果圖

物體表面形變 3D 視圖

剪切散斑效果圖

離面散斑效果圖

實(shí)驗(yàn)原理圖

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