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2026-01-26
ROE-RI07數(shù)字散斑與剪切散斑干涉測(cè)量實(shí)驗(yàn)
散斑干涉技術(shù)是一種通過(guò)對(duì)散斑干涉條紋進(jìn)行分析而獲得測(cè)結(jié)果的干涉測(cè)量方法，可測(cè)量物體形變過(guò)程中的微小位移。剪切散斑干涉技術(shù)與傳統(tǒng)直接測(cè)量位移技術(shù)不同，主要通過(guò)目標(biāo)平面自身作為參考平面 測(cè)量得到位移的空間導(dǎo)數(shù)。兩種技術(shù)都具有非接觸、全場(chǎng)同時(shí)測(cè)量、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)、應(yīng)變測(cè)量、振動(dòng)分析等領(lǐng)域。
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更新日期
2026-02-05 - 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 - 03
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44
地址：浙江省杭州市富陽(yáng)區(qū)銀湖街道中國(guó)智谷富春園區(qū)C幢2層
郵箱：sales@yixist.com
聯(lián)系人：石經(jīng)理
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